金属の構成の高精度の平坦のテスター
適用
ハードウェアおよび薄板金の部品のような金属の部品の平坦の高精度のテストのため。
働き主義
multi-aperture必要な検出に基づく平坦のテストの技術。
特徴
| モデル | FT-MC-X-X |
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最高の検出の口径 |
≥Φ200mm （カスタマイズ可能な） |
| 覆うこと | ≤Φ40mmの窓ミラーの固定 |
| 作動の波長 | 633nm |
| 作動の視野 | ≥±2 ' |
| 最低バンド サイズは検出した | 4mm |
| 検出の精密（PV） | ≤0.2umのバンド4mm より広い工作物の幅（、より高い精密） |
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注:利用できるカスタマイズされた生産。 |
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私達の利点
私達は製造業者である。
成長したプロセス。
24就業時間以内の応答。
私達のISOの証明
私達のパテントの部分
私達の賞の部分およびR & Dの資格
当社の製品は世界中で販売されています。当社の製品の全プロセスにご安心ください。
