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Wafer Flatness Detection Surface Shape Detection Equipment

ウェーハ平坦度検出装置 表面形状検出装置

  • ハイライト

    ウエファーの平坦の検出の表面の点検装置ZEIT

    ,

    ZEITのウエファーの平坦の検出の表面の点検装置

    ,

    ZEITのウエファーの平坦の検出の表面の形の点検装置

  • サイズ
    カスタマイズ可能
  • カスタマイズ可能
    利用できる
  • 保証期間
    1年または場合次第で
  • 出荷の言葉
    海/空気/Multimodal輸送、等によって
  • 起源の場所
    中国、成都
  • ブランド名
    ZEIT
  • 証明
    Case by case
  • モデル番号
    SSD-W-X—X
  • 最小注文数量
    1セット
  • 価格
    Case by case
  • パッケージの詳細
    木製ケース
  • 受渡し時間
    ケースバイケース
  • 支払条件
    T/T
  • 供給の能力
    ケースバイケース

ウェーハ平坦度検出装置 表面形状検出装置

ウエファーの構造軽い表面の形の検出装置

 

 

適用

ウエファーの平坦の検出。

 

働き主義

測定された表面のポイント雲の配分そして湾曲の配分はに従って計算される

軽い縞の変形、および表面の形の誤差分布はポイントの比較によって得ることができる

理想的なモデルとの雲の配分。

 

特徴

     モデル      SSD-W-X-X
     測定範囲      200×150mm2
     横断決断      慣習的な0.25mm、調節可能
     測定の精密      絶対誤差:±3μm (直径の100mm)
注:利用できるカスタマイズされた生産。

                                                                                                             

検出のイメージ

ウェーハ平坦度検出装置 表面形状検出装置 0

 

私達の利点

私達は製造業者である。

成長したプロセス。

 

24就業時間以内の応答。

 

私達のISOの証明

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私達のパテントの部分

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私達の賞の部分およびR & Dの資格

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