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Ф450mm Large Aperture Horizontal Laser Interferometer System 2.3K*2.3K Pixel

Ф450mmの大きい開き横のレーザーの干渉計システム2.3K*2.3Kピクセル

  • ハイライト

    450mmレーザーの干渉計システム

    ,

    2.3Kピクセル レーザーの干渉計

    ,

    デュアル ポート レーザーの干渉計システム

  • 構造
    横の構成
  • 出荷の言葉
    海/空気/Multimodal輸送、FEDERAL EXPRESS、DHL、EMS、TNT、等によって
  • 保証期間
    1年または場合次第で
  • カスタマイズ可能
    利用できる
  • 起源の場所
    中国、成都
  • ブランド名
    ZEIT
  • 証明
    Case by case
  • モデル番号
    INF-HL-450
  • 最小注文数量
    1set
  • 価格
    Case by case
  • パッケージの詳細
    木の場合
  • 受渡し時間
    ケースバイケース
  • 支払条件
    T/T
  • 供給の能力
    ケースバイケース

Ф450mmの大きい開き横のレーザーの干渉計システム2.3K*2.3Kピクセル

Ф450mmの大きい開き横のレーザーの干渉計
 
 
アプリケーション領域
材料の光学的性質を、厚さのような、間隔測定しなさい;
より精密な変数内部材料を、光学均等性のような、r.i.、測定しなさい

表面の滑らかさ。
 
働き主義

レーザーの干渉計システムはレーザーの反射器、発振器、エンコーダー、走査器の出を、また含んでいる

検出、調節およびデータ出力のための電子回路そしてソフトウエア システム。
垂直を形作るために反射器および発振器を通して出るレーザーのパスによって出るレーザ光線

または横の注入のレーザ光線および参照のレーザ光線。それから、それはで反映され、干渉される

目的の表面は線形スキャンの測定のための外的な走査器に、循環され。基づく

前述のスキャン結果、エンコーダーのアウトプット データ。最後にコンピュータは速くおよび正確達成する

表面の粗さ、有効な形、等のような測定そして分析。

 
特徴

    モデル INF-HL-450

明確な開き

Ф450mm
Phase-shiftingモード phase-shifting波長の調整

CCDの決断

1.2K*1.2Kピクセル/2.3K*2.3Kピクセル
組み合わせ精度 PVの≤ λ/20

システム反復性の正確さ

RMSの≤ λ/2000 (2σ)
注:利用できるカスタマイズされた生産。

                                                          
製品利便
→のデュアル ポートの試験制度および優秀な画像技術
作動し、使用すること容易な→の横の構成
解析システムを開ける→の波長の調整段階
 
私達の利点
私達は製造業者である。
私達はずっと中国の国民の科学技術の主要なプロジェクトを引き受けている。
私達は中国人のNationalMajorレーザー工学ずっとプロジェクトを引き受けている。
中国の光学社会のメンバー
レーザー及び光電子工学の進歩の次長の単位
戦略的提携の同盟をテストしている中国のメンバー
24就業時間以内の応答。

 
私達のISOの証明
Ф450mmの大きい開き横のレーザーの干渉計システム2.3K*2.3Kピクセル 0
 
私達のパテントの部分
Ф450mmの大きい開き横のレーザーの干渉計システム2.3K*2.3Kピクセル 1Ф450mmの大きい開き横のレーザーの干渉計システム2.3K*2.3Kピクセル 2
 
私達の賞の部分およびR & Dの資格

Ф450mmの大きい開き横のレーザーの干渉計システム2.3K*2.3Kピクセル 3Ф450mmの大きい開き横のレーザーの干渉計システム2.3K*2.3Kピクセル 4