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Ф500mm Large Aperture Horizontal Laser Interferometer System For Surface Shape

Ф500mmの大きい開き表面の形のための横のレーザーの干渉計システム

  • ハイライト

    表面の形レーザーの干渉計システム

    ,

    500mmレーザーの干渉計システム

    ,

    大きい開きレーザーの干渉計

  • 構造
    横の構成
  • 出荷の言葉
    海/空気/Multimodal輸送、FEDERAL EXPRESS、DHL、EMS、TNT、等によって
  • 保証期間
    1年または場合次第で
  • カスタマイズ可能
    利用できる
  • 起源の場所
    中国、成都
  • ブランド名
    ZEIT
  • 証明
    Case by case
  • モデル番号
    INF-HL-500
  • 最小注文数量
    1set
  • 価格
    Case by case
  • パッケージの詳細
    木の場合
  • 受渡し時間
    ケースバイケース
  • 支払条件
    T/T
  • 供給の能力
    ケースバイケース

Ф500mmの大きい開き表面の形のための横のレーザーの干渉計システム

Ф500mmの大きい開き横のレーザーの干渉計
 
 
アプリケーション領域
1. 表面の形;
2.湾曲テスト;
3.表面の平坦か表面の粗さ;
4。 ガラスの両側が十分にきっかりあるかどうか測定するため;
5.角度のテスト:ある光学部品に正確さを測定するのに使用することができる角度がある、;
6.圧力のテスト:ガラスかカメラ レンズのような、それが締め金で止められるときガラス変形をテストできる

他の目的を使って。
 
働き主義

レーザーの干渉計は2つのビームに後分けられる単調一条の光線を出す、

線形干渉計に入ることおよび反射器の方に指示されて。これら二つのビームはそれから反映される

に戻る再度分光器、最終的にconvergとレーザーの干渉計。
光路差が変わらなければ、レーザーの干渉計は安定した信号をその間見つける

建設的で、有害な干渉の2本の棒。光路差の変更、

これらの変更は2本の光学道間の相違を測定するために計算され、使用される。

 
特徴

    モデル INF-HL-500

明確な開き

Ф500mm
Phase-shiftingモード phase-shifting波長の調整

CCDの決断

1.2K*1.2Kピクセル/2.3K*2.3Kピクセル
組み合わせ精度 PVの≤ λ/15

システム反復性の正確さ

RMSの≤ λ/2000 (2σ)
注:利用できるカスタマイズされた生産。

                                                          
製品利便
→のデュアル ポートの試験制度および優秀な画像技術
作動し、使用すること容易な→の横の構成
解析システムを開ける→の波長の調整段階
 
私達の利点
私達は製造業者である。
私達はずっと中国の国民の科学技術の主要なプロジェクトを引き受けている。
私達は中国人のNationalMajorレーザー工学ずっとプロジェクトを引き受けている。
中国の光学社会のメンバー
レーザー及び光電子工学の進歩の次長の単位
戦略的提携の同盟をテストしている中国のメンバー
24就業時間以内の応答。

 
私達のISOの証明
Ф500mmの大きい開き表面の形のための横のレーザーの干渉計システム 0
 
私達のパテントの部分
Ф500mmの大きい開き表面の形のための横のレーザーの干渉計システム 1Ф500mmの大きい開き表面の形のための横のレーザーの干渉計システム 2
 
私達の賞の部分およびR & Dの資格

Ф500mmの大きい開き表面の形のための横のレーザーの干渉計システム 3Ф500mmの大きい開き表面の形のための横のレーザーの干渉計システム 4