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Operating Wavelength 633 Nm Optical Testing Equipment Flatness Tester

動作波長 633 Nm 光学試験装置 フラットネステスター

  • ハイライト

    ZEITの作動の波長633 nmの光学試験装置

    ,

    ZEIT 633 nmの高精度の光学平坦のテスター

    ,

    ZEITの作動の波長633 nmの光学平坦のテスター

  • サイズ
    カスタマイズ可能な 950 mm*294mm* 300mm
  • カスタマイズ可能
    利用できる
  • 保証期間
    1年または場合次第で
  • 出荷の言葉
    海/空気/Multimodal輸送、等によって
  • 起源の場所
    中国、成都
  • ブランド名
    ZEIT
  • 証明
    Case by case
  • モデル番号
    FI200
  • 最小注文数量
    1セット
  • 価格
    Case by case
  • パッケージの詳細
    木製ケース
  • 受渡し時間
    ケースバイケース
  • 支払条件
    T/T
  • 供給の能力
    ケースバイケース

動作波長 633 Nm 光学試験装置 フラットネステスター

高精度の平坦のテスター

 

 

適用

金属の部品、大理石および他の密封の部品の平坦の高精度のテストのため。

 

働き主義

multi-aperture必要な検出に基づく平坦のテストの技術。

 

特徴

     モデル      FI200
     最高の検出の口径      ≥Φ200mm (カスタマイズ可能な)
     覆うこと     ≤Φ40mmの窓ミラーの固定
     作動の波長     633nm
     作動の視野      ≥±2 '
     最低バンド サイズは検出した      4mm
    検出の精密(PV)

     ≤0.2umのバンド4mm

より広い工作物の幅(、より高い精密)

注:利用できるカスタマイズされた生産。

                                                                                                    

私達の利点

私達は製造業者である。

成長したプロセス。

24就業時間以内の応答。

 

私達のISOの証明

動作波長 633 Nm 光学試験装置 フラットネステスター 0

 

 

私達のパテントの部分

動作波長 633 Nm 光学試験装置 フラットネステスター 1動作波長 633 Nm 光学試験装置 フラットネステスター 2

 

 

私達の賞の部分およびR & Dの資格

動作波長 633 Nm 光学試験装置 フラットネステスター 3動作波長 633 Nm 光学試験装置 フラットネステスター 4