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ZEIT Optical Testing Equipment Lamp Reflector Shape Wafer Flatness Surface Defect Detection

ZEIT 光学検査装置 ランプ リフレクタ 形状 ウェーハ平坦度 表面欠陥検出

  • ハイライト

    ZEITの光学試験装置

    ,

    ZEITの光学試験装置のウエファーの平坦の表面欠陥の検出

    ,

    ZEITの光学テストのウエファーの平坦の表面欠陥の検出装置

  • サイズ
    820mm*700mm*760mm、カスタマイズ可能
  • カスタマイズ可能
    利用できる
  • 保証期間
    1年または場合次第で
  • 出荷の言葉
    海/空気/Multimodal輸送、等によって
  • 起源の場所
    中国、成都
  • ブランド名
    ZEIT
  • 証明
    Case by case
  • モデル番号
    S1200-150
  • 最小注文数量
    1セット
  • 価格
    Case by case
  • パッケージの詳細
    木製ケース
  • 受渡し時間
    ケースバイケース
  • 支払条件
    T/T
  • 供給の能力
    ケースバイケース

ZEIT 光学検査装置 ランプ リフレクタ 形状 ウェーハ平坦度 表面欠陥検出

構造軽い大型の表面の形の検出装置

 

 

適用

ランプの反射器の形の検出;ウエファーの平坦の検出;車のペンキの表面の検出;レンズの表面の形の検出。

 

働き主義

表示は縞の形態の構成されたライトを写し出し、カメラは測定されるから構成されたライトを集める

表面は測定された表面、ポイント雲の配分の調節によって、集められた縞変形する

そして測定された表面の湾曲の配分は縞の変形に従って、そして計算される

表面の形の誤差分布は理想的なモデルとポイント雲の配分を比較することによって得ることができる。

 

特徴

     モデル     SI200-150
     測定範囲     200×150mm2
     横断決断      慣習的な0.25mm、調節可能
     測定の精密      絶対誤差:±3μm (直径の100mm)
注:利用できるカスタマイズされた生産。

                                                                                                             

検出のイメージ

ZEIT 光学検査装置 ランプ リフレクタ 形状 ウェーハ平坦度 表面欠陥検出 0

 

私達の利点

私達は製造業者である。

成長したプロセス。

24就業時間以内の応答。

 

私達のISOの証明

ZEIT 光学検査装置 ランプ リフレクタ 形状 ウェーハ平坦度 表面欠陥検出 1

 

 

私達のパテントの部分

ZEIT 光学検査装置 ランプ リフレクタ 形状 ウェーハ平坦度 表面欠陥検出 2ZEIT 光学検査装置 ランプ リフレクタ 形状 ウェーハ平坦度 表面欠陥検出 3

 

 

私達の賞の部分およびR & Dの資格

ZEIT 光学検査装置 ランプ リフレクタ 形状 ウェーハ平坦度 表面欠陥検出 4ZEIT 光学検査装置 ランプ リフレクタ 形状 ウェーハ平坦度 表面欠陥検出 5